专业的镀层测厚仪器E8-SPR 镀层测厚分析仪器是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),与普通EDXRF相比,分辨率高,其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF*技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告;E8-SPR采用小光斑设计,多种工作模型供选择,测试数据更*,更稳定。 E8-SPR 镀层测厚分析仪器外形特点: ● 仪器结构采用人体工程学设计,仪器两侧按成人手臂长度设计,方便移动、搬运。 ● 上盖倾斜6度角,寓意对客户的尊重。 ● 表面采用高档汽车喷漆工艺,采用宝蓝、雅致白搭配,蓝色代表科技,白色代表圣洁,寓意对科学的敬仰。 ● 可视化样品窗。 ● 辐射防护: ● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线。 ● 辐射标志警示。 ●迷宫式结构,防止射线泄漏。 ● 安全连锁设计;测试过程中误打开样品盖时,电路0.1μS快速切断X 仪器经第三方检测,X射线剂量率*符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》。 硬件技术: ● 超短光路设计:提高无卤检测分辨率,提高样品分析效率,降低光管功率,延长仪器使用寿命。 ● 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率。 ● 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计。 ● 电路系统符合EMC、FCC测试标准。 ● 技术快拆样品盘,更换薄膜更 软件技术: ● 分析元素:Na~U之间元素。 ● 分析时间:60秒。 ● 配置RoHS检测分析模型,无卤分析 软件界面简洁,模块化设计,功能清晰,易可配置镀层测厚模型、玩具指令等模型。 ● HeLeeX ED Workstation V3.0软件拥有数据一键备份,一键还原功能,保护用户数据安全。 ● HeLeeX ED Workstation V3.0根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。 ● HeLeeX ED Workstation V3.0配备开放式分析模型功能,客户建立自己的工作模型。 硬件配置: 探测器 ● 类型:X123探测器(采用*高性能电致冷半导体探测器) ● Be窗厚度:1mil ● 晶体面积:25mm2 ● *分辨率:145eV ● 信号处理系统DP5 X射线管 ● 电 压 :0~50kV ● zui大电流 :2.0mA ● zui大功率 :50W ● 靶 材 :Mo ● Be窗厚度 :0.2mm ● 使用寿命 :大于2万小时 高压电源 ● 输出电压:0~50kV ● 灯丝电流:0~2mA ● zui大功率:50W ● 纹波系数:0.1%(p-p 8小时稳定性:0.05% 摄像头 ● 微焦距 ● 500万像素 准直器、滤光片 ● 快拆卸准直器、滤光片系统 ● 多种材质准直器 ● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可选 ● 多种滤光片、准直器组合,软件自动切换 其他配件 ●进口高性能开关电源 ●进口低噪声、大风量风扇 产品规格: ● 外形尺寸 :380 mm x 510mm x 365 mm (长x宽x高) ● 样品仓尺寸 :360mm×330 mm ×50 mm (长x宽x高) ● 仪器重量 :33.5kg ● 供电电源 :AC220V/ 50Hz ● zui大功率 :330W ● 工作温度 :15-30℃ ● 相对湿度 :≤85%,不结露 应用领域: ● 镀层分析:各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Cr、Pd等厚度分析;镀层元素含量分析 ●RoHS /ELV指令测试元素:Pb(铅)、Cd(镉)、Hg(汞)、Cr(铬)、Br(溴) ●无卤检测:测试元素:Br(溴)、Cl(氯); ●合金分析:钢铁、铜类、锌类等成分分析。 |